产品名称: 1J1009
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SMD高电流测试治具(50A 3MHz)

 The 1009 High Current Fixture enables a DC bias current of up to 50 A to be applied to an SMD inductor during component test.

The fixture has been designed to work specifically with one or two 3265B/25A DC Bias Units and a 3260B or 3255B Inductance Analyzer. If the 1009 is to be used with two 3265B/25As then the high current lead set 5-328-2005 is also required

Interchangeable component test carriers ensures that the 1009 test fixture may be used with a wide variety of different devices. Blank carriers are available which enable device specific test fixtures to be developed or alternatively a carrier design and manufacturing service is available. Contact sales@wayne-kerr.co.uk for further information.

Order part number 1J1009

Case / 最新案例
2013 - 11 - 30
点击次数: 105
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现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
2013 - 11 - 30
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现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
2013 - 11 - 30
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现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
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