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贺WK6565获"中国 2014 创新产品与应用奖"
发布时间:
2015
-
03
-
30
点击次数:
36
贺WK6565获"中国 2014 创新产品与应用奖" WK6565高频直流重叠电流源于2013年8月在英国研制成功,
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新型测试治具发布-高频生产线测包机四线式S
发布时间:
2015
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03
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30
点击次数:
36
新型测试治具发布-高频生产线测包机四线式SMD专用治具 本公司最新研发测试治具-高频生产线测包机四线式SMD专用治具, 目前已申请发明及新型专利,其最高量测频率为10MHz。 待测
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新产品发布-精密阻抗分析仪及高频LCR Meter之
发布时间:
2015
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03
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36
新产品发布-精密阻抗分析仪及高频LCR Meter之 1Amp, 2Amp 及2.5Amp DC Bias选配 本公司发布新产品 - 精密阻抗分析仪6500B系列及高频LCR Meter 6500P系列之1Amp, 2Amp 及2.5Amp DC Bias选配。 欢迎来电洽询
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250-Amp DC Bias Unit 高电流直流偏压源 -- WK3265B (测试
发布时间:
2015
-
03
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点击次数:
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250-Amp DC Bias Unit 高电流直流偏压源 -- WK3265B (测试实况) 本公司新推出250A高电流直流偏压源---WK3265B * 高达250A的DC偏置电流 * 四线或两线测试方式 * 应用于测试线圈,变压器,电感工作状态的
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WPC module test 、NFC module test,本公司可提供最完整
发布时间:
2015
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03
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36
WPC module test 、NFC module test,本公司可提供最完整的测试解决方案 针对WPC module test 、NFC module test,本公司可提供最完整的测试解决方案,包含研发的导入、高频治具的制作、客制化软体
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Wayne Kerr即日起提供 NFC Antena 天线13.56MHz 测试解决
发布时间:
2015
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03
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36
Wayne Kerr即日起提供 NFC Antena 天线13.56MHz 测试解决方案,主要应用在近场通讯 (NFC) , 使用WK6520B/P为测试主机。 Wayne Kerr即日起提供 NFC Antena 天线13.56MHz 测试解决方案,主要应用在近场通讯
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DC to DC Converter中的电源管理IC频率提升到2MHz~6MH
发布时间:
2015
-
03
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DC to DC Converter中的电源管理IC频率提升到2MHz~6MHz以上,本公司相对应机型WK6506P 6MHz LCR Meter 因应DC to DC Converter中的电源管理IC频率提升到2MHz~6MHz以上,目前测试仪器业界并没有测试解决方案
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WK6420A / WK6420B / WK6420C已PHASE OUT
发布时间:
2015
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03
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WK6420A / WK6420B / WK6420C已PHASE OUT 欢迎来电洽询新产品,可安排前往demo展示 欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879,本公司当竭诚为您服务。
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Case
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最新案例
250A高电流直流偏压源——WK3265B
2013
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11
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30
点击次数:
105
...
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
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WK6565 120MHz高频直流重叠电流源接
2013
-
11
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30
点击次数:
105
...
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
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WPC & NFC 测试方案——WK6520P高频LCR电表/WK4150LCR电
2013
-
11
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30
点击次数:
105
...
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
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