Case
说明: 现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,......
说明: wayneker阻抗分析仪在材料表征和测量领域新标杆 Partulab高温介电测量系统 2015年1月30日,武汉佰力博科技(Partulab)隆重宣布新产品VDMS系列上市销售,此次发布的VDMS系列产品主要有:高温介......
说明: NFC模块测试条件 测试频率:13.56MHz 测试参数:L、Q or Rs 磁导率: at 13.56MHz 饱和DC偏置电流: 1A ~ 10A WPC模块测试条件 测试频率范围: 100KHz ~ 500KHz 测试参数:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs 30m 自......
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